WUXI BOHYUN TE TECH
HTFC-IR
Memory Test Chamber
(D3_High Density R-DIMM)
[产品详细信息]
关联 SPEC.
使用 
D3 RD 16GB
35℃ ~ 95℃,
内温
测试时
(PKG surface Tc temp.)  
24℃~26℃ 
Hot temp.
D3 RD 16GB
35℃→ 85℃ 
4分以
 
Forcing 
测试时
待机的时间
PKG surface
 
Tc temp. 基准
控制精度
D3 RD 16GB
Thermal 
Heat Spreader temp.
±1.0℃
 
测试时
Throttling
PKG surface 
On
PKG surface TC temp.
±2.0℃
Tc temp.
Thermal
Heat Spreader temp.
±2.0℃
90℃제어 
Throttling
 
Off
PKG surface TC temp.
±3.0℃
 
 
 
 
 
 
Controller SPEC.
Unit
Heating
AC 220V/2.5A(540W)
UNIT 基准 
Cooling
AC 220V/1.1A(240W)
Controller
主控制板↔近感器用 RS485通信控制
 
通信方式: RS485,RS232 支持 
PID 控制方式