WUXI BOHYUN TE TECH
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Ceramic CTE 测量 Cold & Hot plate
Ceramic Board 热膨胀系数 测量 对象 : Ceramic Board (Wafer type)
HTC-DI Chamber
DIMM - 在高温，低温环境试验 (hot & cold test)
Memory IC Test 设备
DIMM - 在高温，低温环境试验 (hot & cold test)
Mini 恒温室
为了保持控制对象恒温状态的恒温室：适用于半导体检测用
LC-HC200
Open Chamber
LC-HC050
Open Chamber
LCDV-N00100CTH
Thermal chamber
12-inch Cold-Chuck
在半导体晶圆片切割工序时发生不良 → 在10℃以上冷却时，可降低粘度，提高收益率
8-inch Cold-Chuck
Cold-Chuck Plate & Temp. Controller
Extreme Low Temperature Chamber
惯性传感器温度测试用超低温室
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