WUXI BOHYUN TE TECH
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LCDV-P25090CTH-W
High Temperature Chamber
LCDV-P25090CTNIR-HC
Memory Test Chamber (NAND)
M-PTC_Ver.1
Memory Test Chamber (D2-D3_SO-DIMM) *Computer 전원공급가능
RTC
[New]메모리 온도 특성검사 장비 : DRAM 온도 검사장비/ Hot & Cool 동시 가능
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